par Dohet-Eraly, Jérôme ;Méès, Loïc;Olivier, Thomas;Dubois, Frank ;Fournier, Corinne
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y
Publication Publié, 2020-08-01
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y
Publication Publié, 2020-08-01
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Dohet-Eraly, Jérôme; Méès, Loïc; Olivier, Thomas; Dubois, Frank; Fournier, Corinne |
Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y |
Statut de publication: | Publié, 2020-08-01 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
Physique de l'état solide | |
Métallurgie | |
Electronique et électrotechnique | |
Mathématiques | |
Informatique appliquée logiciel | |
Mots-clés: | Digital holographic microscopy |
Inverse problem approach | |
Quantitative phase imaging | |
Three-dimensional microscopy | |
Note générale: | SCOPUS: cp.p |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
info:doi/10.1117/12.2557852 | |
info:scp/85091500621 |