par Dohet-Eraly, Jérôme
;Méès, Loïc;Olivier, Thomas;Dubois, Frank
;Fournier, Corinne
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y
Publication Publié, 2020-08-01
;Méès, Loïc;Olivier, Thomas;Dubois, Frank
;Fournier, CorinneRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y
Publication Publié, 2020-08-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Dohet-Eraly, Jérôme; Méès, Loïc; Olivier, Thomas; Dubois, Frank; Fournier, Corinne |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 11351, 113510Y |
| Statut de publication: | Publié, 2020-08-01 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état solide | |
| Métallurgie | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Mathématiques | |
| Informatique appliquée logiciel | |
| Mots-clés: | Digital holographic microscopy |
| Inverse problem approach | |
| Quantitative phase imaging | |
| Three-dimensional microscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.2557852 | |
| info:scp/85091500621 |



