par Yang, Lu;Yendo, Tomohiro;Teratani, Mehrdad
;Fujii, Toshiaki;Tanimoto, Masayuki
Référence IEEE International Conference on Image Processing(Hong Kong), Vol. 1785-1788
Publication Publié, 2010-12
;Fujii, Toshiaki;Tanimoto, MasayukiRéférence IEEE International Conference on Image Processing(Hong Kong), Vol. 1785-1788
Publication Publié, 2010-12
Publication dans des actes
| Titre: |
|
| Auteur: | Yang, Lu; Yendo, Tomohiro; Teratani, Mehrdad; Fujii, Toshiaki; Tanimoto, Masayuki |
| Informations sur la publication: | IEEE International Conference on Image Processing(Hong Kong), Vol. 1785-1788 |
| Statut de publication: | Publié, 2010-12 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Technologies de l'information et de la communication (TIC) | |
| Mots-clés: | Virtual view, reliability |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | info:doi/10.1109/ICIP.2010.5650222 |



