par Jacobs, Luc 
;Barroo, Cédric
Référence Applied surface science, 535, 147747
Publication Publié, 2021-01-01
;Barroo, Cédric Référence Applied surface science, 535, 147747
Publication Publié, 2021-01-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Jacobs, Luc; Barroo, Cédric |
| Informations sur la publication: | Applied surface science, 535, 147747 |
| Statut de publication: | Publié, 2021-01-01 |
| Sujet CREF: | Métallurgie |
| Mots-clés: | Chocolate |
| FEM | |
| Field emission microscopy | |
| Field ion microscopy | |
| FIM | |
| Nanoscience | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| DecretOANoAutActif | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0169-4332 |
| info:doi/10.1016/j.apsusc.2020.147747 | |
| info:pii/S0169433220325046 | |
| info:scp/85090417740 |
