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Intérêt du Doppler dans l'étude des tumeurs superficielles

par Peetrons, Philippe ;Gevenois, Pierre-Alain
Référence XXXVIII èmes Journées Françaises de Radiologie (05-09.11.1990: Paris)
Publication Publié, 1990

Communication à un colloque

• Détails

Titre:	Intérêt du Doppler dans l'étude des tumeurs superficielles
Auteur:	Peetrons, Philippe; Gevenois, Pierre-Alain
Informations sur la publication:	XXXVIII èmes Journées Françaises de Radiologie (05-09.11.1990: Paris)
Statut de publication:	Publié, 1990
Sujet CREF:	Cancérologie
	Imagerie médicale, radiologie, tomographie
Langue:	Anglais
Identificateurs:	pg-0223