Titre:
  • In-situ ellipsometric characterization of the growth of porous anisotropic nanocrystalline ZnO layers
Auteur:Laha, Priya; Nazarkin, M. Y.; Volkova, A. V.; Simunin, M. M.; Terryn, Herman; Gavrilov, S.; Ustarroz Troyano, Jon
Informations sur la publication:Applied physics letters, 106, 10, page (101904)
Statut de publication:Publié, 2015-03
Sujet CREF:Chimie
Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0003-6951
info:doi/10.1063/1.4913909