On the morphology of Si/SiO2/Ni nanostructures with swift heavy ion tracks in silicon oxide

;Sivakov, V.
Référence Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques, 8, 4, page (805-813)
Publication Publié, 2014-08

Article révisé par les pairs

Titre:	On the morphology of Si/SiO2/Ni nanostructures with swift heavy ion tracks in silicon oxide
Auteur:	Demyanov, Sergey; Kaniukov, Yu; Petrov, A V; Belonogov, E.; Streltsov, E.; Ivanov, D.; Ivanova, Yu.; Trautmann, C.; Terryn, Herman; Petrova, Manuela; Ustarroz Troyano, Jon; Sivakov, V.
Informations sur la publication:	Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques, 8, 4, page (805-813)
Statut de publication:	Publié, 2014-08
Sujet CREF:	Chimie
	Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:	Français
Identificateurs:	urn:issn:1027-4510
	info:doi/10.1134/S1027451014040326

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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