par Ley, Christophe ;Swan, Yvik
Référence Statistics & probability letters, 111, page (67-71)
Publication Publié, 2016-04
Article révisé par les pairs
Titre:
  • A general parametric Stein characterization
Auteur:Ley, Christophe; Swan, Yvik
Informations sur la publication:Statistics & probability letters, 111, page (67-71)
Statut de publication:Publié, 2016-04
Sujet CREF:Probabilités
Analyse fonctionnelle
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0167-7152
info:doi/10.1016/j.spl.2016.01.008
info:pii/S0167715216000079