In-situ measurement of phospholipid nanodisk adhesion on a solid substrate using neutron reflectometry and atomic force microscopy

;Fujinami, So
Référence Physica. B, Condensed matter, 551, page (222-226)
Publication Publié, 2018-12-01

Article révisé par les pairs

Titre:	In-situ measurement of phospholipid nanodisk adhesion on a solid substrate using neutron reflectometry and atomic force microscopy
Auteur:	Yamada, Norifumi N.L.; Sferrazza, Michele; Fujinami, So
Informations sur la publication:	Physica. B, Condensed matter, 551, page (222-226)
Statut de publication:	Publié, 2018-12-01
Sujet CREF:	Physique de l'état solide
	Métallurgie
	Electronique et électrotechnique
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [supraconducteur]
Mots-clés:	Atomic force microscopy
	Bicelle
	Neutron reflectometry
	Substrate-supported phospholipid bilayer
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0921-4526
	info:doi/10.1016/j.physb.2017.11.066
	info:pii/S0921452617309614
	info:scp/85039417460

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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