par Jacobs, Luc ;Barroo, Cédric ;Von Boehn, Bernhard;Homann, Mathias;Imbihl, Ronald;Visart de Bocarmé, Thierry
Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289
Publication Publié, 2019-08-05
Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289
Publication Publié, 2019-08-05
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Jacobs, Luc; Barroo, Cédric; Von Boehn, Bernhard; Homann, Mathias; Imbihl, Ronald; Visart de Bocarmé, Thierry |
Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289 |
Statut de publication: | Publié, 2019-08-05 |
Sujet CREF: | Chimie des surfaces et des interfaces |
Physique appliquée des surfaces | |
Physique des surfaces | |
Langue: | Français |
Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |