par Jacobs, Luc
;Barroo, Cédric
;Von Boehn, Bernhard;Homann, Mathias;Imbihl, Ronald;Visart de Bocarmé, Thierry 
Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289
Publication Publié, 2019-08-05
;Barroo, Cédric
;Von Boehn, Bernhard;Homann, Mathias;Imbihl, Ronald;Visart de Bocarmé, Thierry 
Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289
Publication Publié, 2019-08-05
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Jacobs, Luc; Barroo, Cédric; Von Boehn, Bernhard; Homann, Mathias; Imbihl, Ronald; Visart de Bocarmé, Thierry |
| Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (310-311), 10.1017/S1431927619002289 |
| Statut de publication: | Publié, 2019-08-05 |
| Sujet CREF: | Chimie des surfaces et des interfaces |
| Physique appliquée des surfaces | |
| Physique des surfaces | |
| Langue: | Français |
| Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |



