par Cristaudo, Vanina;Merche, Delphine 
;Poleunis, Claude;Devaux, Jacques;Eloy, Pierre;Reniers, François ;Delcorte, Arnaud
Référence Applied surface science, 481, page (1490-1502)
Publication Publié, 2019-07-01
;Poleunis, Claude;Devaux, Jacques;Eloy, Pierre;Reniers, François ;Delcorte, ArnaudRéférence Applied surface science, 481, page (1490-1502)
Publication Publié, 2019-07-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Cristaudo, Vanina; Merche, Delphine; Poleunis, Claude; Devaux, Jacques; Eloy, Pierre; Reniers, François; Delcorte, Arnaud |
| Informations sur la publication: | Applied surface science, 481, page (1490-1502) |
| Statut de publication: | Publié, 2019-07-01 |
| Sujet CREF: | Métallurgie |
| Mots-clés: | Dielectric barrier discharge |
| Organic depth-profiling | |
| Oxidation | |
| Plasma polymerization | |
| Surface contamination | |
| ToF-SIMS | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0169-4332 |
| info:doi/10.1016/j.apsusc.2019.03.032 | |
| info:pii/S0169433219306439 | |
| info:scp/85063666539 |
