Titre:
  • Ex-situ SIMS characterization of plasma-deposited polystyrene near atmospheric pressure
Auteur:Cristaudo, Vanina; Merche, Delphine; Poleunis, Claude; Devaux, Jacques; Eloy, Pierre; Reniers, François; Delcorte, Arnaud
Informations sur la publication:Applied surface science, 481, page (1490-1502)
Statut de publication:Publié, 2019-07
Sujet CREF:Métallurgie
Mots-clés:Dielectric barrier discharge
Organic depth-profiling
Oxidation
Plasma polymerization
Surface contamination
ToF-SIMS
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0169-4332
info:doi/10.1016/j.apsusc.2019.03.032
info:pii/S0169433219306439
info:scp/85063666539