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Micro and nanoscale characterization of complex multilayer-structured white etching layer in rails

par Wu, Junxi;Petrov, Roumen Kh R.H.;Kölling, Sebastian;Koenraad, Paul;Malet, Loïc ;Godet, Stéphane ;Sietsma, Jilt
Référence Metals, 8, 10, 749
Publication Publié, 2018-10

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