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Influence of surface and core hole effects for quantitative X-ray photoelectron spectroscopy by peak shape analysis

par Monier, G.;Robert-Goumet, C.;Mahjoub, M.A.;Bideux, L.;Gruzza, B.;Pauly, Nicolas ;Tougaard, Sven
Référence 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (28-09-2015: Grenade, Espagne)
Publication Non publié, 2015

Communication à un colloque

• Détails

Titre:	Influence of surface and core hole effects for quantitative X-ray photoelectron spectroscopy by peak shape analysis
Auteur:	Monier, G.; Robert-Goumet, C.; Mahjoub, M.A.; Bideux, L.; Gruzza, B.; Pauly, Nicolas; Tougaard, Sven
Informations sur la publication:	16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (28-09-2015: Grenade, Espagne)
Statut de publication:	Non publié, 2015
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Français