Radiocristallographie - Intensité des rayons X diffractés par des cristaux à empilement compact hexagonaux et cubiques avec des "erreurs d'empilement, de croissance et de déformation".

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Référence Comptes rendus des séances de l'Académie des sciences. Série 1, Mathématique, 237, page (463-464)
Publication Publié, 1953

Article révisé par les pairs

Titre:	Radiocristallographie - Intensité des rayons X diffractés par des cristaux à empilement compact hexagonaux et cubiques avec des "erreurs d'empilement, de croissance et de déformation".
Auteur:	Gevers, Rudolf
Informations sur la publication:	Comptes rendus des séances de l'Académie des sciences. Série 1, Mathématique, 237, page (463-464)
Statut de publication:	Publié, 1953
Sujet CREF:	Physique
Langue:	Français
Identificateurs:	urn:issn:0249-6291
	VX-014019

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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