par Lopez Erauskin, Ramon
;Gyselinck, Johan
;Olivier, Frédéric;Ernst, Damien
Référence IEEE Benelux Young Researchers Symposium (YRS2016), Eindhoven, The Netherlands, 12-13 May 2016
Publication Publié, 2016
;Gyselinck, Johan
;Olivier, Frédéric;Ernst, DamienRéférence IEEE Benelux Young Researchers Symposium (YRS2016), Eindhoven, The Netherlands, 12-13 May 2016
Publication Publié, 2016
Publication dans des actes
| Titre: |
|
| Auteur: | Lopez Erauskin, Ramon; Gyselinck, Johan; Olivier, Frédéric; Ernst, Damien |
| Informations sur la publication: | IEEE Benelux Young Researchers Symposium (YRS2016), Eindhoven, The Netherlands, 12-13 May 2016 |
| Statut de publication: | Publié, 2016 |
| Sujet CREF: | Mesures électriques |
| Langue: | Français |



