par Kauffmann, Jean-Michel
;Blankert, Bertrand
;Hayen, H.;Van Leeuwen, Suze M.;Karst, Uwe;Bodoki, Ede;Lotrean, S.;Sandulescu, Robert;Mora Diez, Nelaine;Dominguez, O.;Arcos-Martínez, M. Julia
Référence Electroanalysis, 17, 17, page (1501-1510)
Publication Publié, 2005
;Blankert, Bertrand
;Hayen, H.;Van Leeuwen, Suze M.;Karst, Uwe;Bodoki, Ede;Lotrean, S.;Sandulescu, Robert;Mora Diez, Nelaine;Dominguez, O.;Arcos-Martínez, M. JuliaRéférence Electroanalysis, 17, 17, page (1501-1510)
Publication Publié, 2005
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