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In situ electrochromic efficiency of a nickel oxide thin film: Origin of electrochemical process and electrochromic degradation

par Liu, Qirong ;Reniers, François ;Diao, Xungang;Chen, Qianqian ;Zhang, Qianqian;Xiao, Yu;Zhong, Xiaolan;Dong, Guobo;Delplancke, Marie-Paule ;Terryn, Herman ;Baert, Kitty
Référence Journal of Materials Chemistry C, 6, 3, page (646-653)
Publication Publié, 2018

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• Détails
• Contenu

Titre:	In situ electrochromic efficiency of a nickel oxide thin film: Origin of electrochemical process and electrochromic degradation
Auteur:	Liu, Qirong; Reniers, François; Diao, Xungang; Chen, Qianqian; Zhang, Qianqian; Xiao, Yu; Zhong, Xiaolan; Dong, Guobo; Delplancke, Marie-Paule; Terryn, Herman; Baert, Kitty
Informations sur la publication:	Journal of Materials Chemistry C, 6, 3, page (646-653)
Statut de publication:	Publié, 2018
Sujet CREF:	Généralités
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:2050-7534
	info:doi/10.1039/c7tc04696k
	info:scp/85040967917