par Roche, Gilles H;Wantz, Guillaume;Dautel, Olivier;Thuau, Damien;Valvin, PIerre;Clevers, Simon 
;Tjoutis, Thomas;Chambon, Sylvain;Flot, David;Geerts, Yves ;Moreau, Joel J.E.
Référence Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218
Publication Publié, 2017
;Tjoutis, Thomas;Chambon, Sylvain;Flot, David;Geerts, Yves ;Moreau, Joel J.E.Référence Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218
Publication Publié, 2017
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Roche, Gilles H; Wantz, Guillaume; Dautel, Olivier; Thuau, Damien; Valvin, PIerre; Clevers, Simon; Tjoutis, Thomas; Chambon, Sylvain; Flot, David; Geerts, Yves; Moreau, Joel J.E. |
| Informations sur la publication: | Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218 |
| Statut de publication: | Publié, 2017 |
| Sujet CREF: | Electronique et électrotechnique |
| Mots-clés: | field-effect transistors |
| hybrid materials | |
| nanostructures | |
| organosilica | |
| thin films | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:2199-160X |
| info:doi/10.1002/aelm.201700218 | |
| info:scp/85022341527 |
