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Molecular Surface Analysis and Depth-Profiling of Polyethylene Modified by an Atmospheric Ar-D2O Post-Discharge

par Cristaudo, Vanina;Collette, Stephanie ;Tuccitto, Nunzio;Poleunis, Claude;Melchiorre, Luigi Cesare;Licciardello, Antonino;Reniers, François ;Delcorte, Arnaud
Référence Plasma processes and polymers, 13, 11, page (1104-1117)
Publication Publié, 2016-11

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Titre:	Molecular Surface Analysis and Depth-Profiling of Polyethylene Modified by an Atmospheric Ar-D2O Post-Discharge
Auteur:	Cristaudo, Vanina; Collette, Stephanie; Tuccitto, Nunzio; Poleunis, Claude; Melchiorre, Luigi Cesare; Licciardello, Antonino; Reniers, François; Delcorte, Arnaud
Informations sur la publication:	Plasma processes and polymers, 13, 11, page (1104-1117)
Statut de publication:	Publié, 2016-11
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Métallurgie
Mots-clés:	atmospheric plasma treatment
	deuteration
	oxidation
	principal component analysis
	ToF-SIMS molecular depth-profiling
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1612-8850
	info:doi/10.1002/ppap.201600061
	info:scp/84979020563