par De Schryver, Fabien ;Kuliralo, M.
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 525, page (154-159)
Publication Publié, 1985-09
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Measurement of roughness on teeth by means of holographic correlation
Auteur:De Schryver, Fabien; Kuliralo, M.
Informations sur la publication:Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 525, page (154-159)
Statut de publication:Publié, 1985-09
Sujet CREF:Informatique appliquée logiciel
Mathématiques
Electronique et électrotechnique
Métallurgie
Physique de l'état solide
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0277-786X
info:doi/10.1117/12.946357
info:scp/84957529818