The diffracting gauge in extensometry

Ebbeni, Jean-Pierre

doi:doi/10.1117/12.956168

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The diffracting gauge in extensometry

par Ebbeni, Jean-Pierre

Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 136, page (251-257)
Publication Publié, 1978-04

Article révisé par les pairs

Résumé :

The principe of the diffracting gauge is based on the farfield diffraction spectrum of a slit. In extensometry this gauge permits to measure easely and cheaply strain components with great sensibility and fidelity in time. © 1978, SPIE.

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