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New approaches to nanoparticle sample fabrication for atom probe tomography

par Felfer, Peter;Cairney, Julie;Liu, Fu-Tong;Eder, K;Galinski, Henning;Magyar, Andrew A.P.;Bell, David C;Smith, George D.W.;Kruse, Norbert ;Ringer, Simon
Référence Ultramicroscopy, 159, page (413-419)
Publication Publié, 2015-12

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Titre:	New approaches to nanoparticle sample fabrication for atom probe tomography
Auteur:	Felfer, Peter; Cairney, Julie; Liu, Fu-Tong; Eder, K; Galinski, Henning; Magyar, Andrew A.P.; Bell, David C; Smith, George D.W.; Kruse, Norbert; Ringer, Simon
Informations sur la publication:	Ultramicroscopy, 159, page (413-419)
Statut de publication:	Publié, 2015-12
Sujet CREF:	Métallurgie
	Physique de l'état solide
	Optique
	Physique atomique et moléculaire
	Instrumentation et méthodes en physique
Mots-clés:	Atom probe tomography
	Focussed ion beam
	Nanoparticles
	Sample preparation
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0304-3991
	info:doi/10.1016/j.ultramic.2015.04.014
	info:pii/S0304399115000984
	info:scp/84949530894