par Visart de Bocarmé, Thierry ;Bar, Thomas ;Kruse, Norbert
Référence Journées de Rencontres des jeunes Chimistes de la Société Royale de Chimie (SRC) (2: 2000-03-01->03: Borzée, Belgique)
Publication Non publié, 2000-03-01
Communication à un colloque
Résumé : a microscopie ionique à effet de champ électrique (FIM) fournit à l’échelle atomique l’information structurelle et morphologique de l’extrémité d’une pointe métallique. En raison de sa taille (5