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Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications

par Cerezo, Alfred;Clifton, Peter;Lozano-Perez, Sergio;Panayi, Peter;Sha, Gang;Smith, George D.W.;Bagot, Paul A. J.;Visart de Bocarmé, Thierry ;Blavette, Didier;Cadel, E;Fraczkiewicz, A;Menand, Alain;Pareige, C;Deconihout, Bernard;Caron, P;Bunton, BH;Olson, JD;Lenz, DR;Kelly, Thomas;Warren, Paul;Godfrey, Terence J.
Référence Microscopy and microanalysis, 13, 6, page (408-417)
Publication Publié, 2007-12-01

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Titre:	Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
Auteur:	Cerezo, Alfred; Clifton, Peter; Lozano-Perez, Sergio; Panayi, Peter; Sha, Gang; Smith, George D.W.; Bagot, Paul A. J.; Visart de Bocarmé, Thierry; Blavette, Didier; Cadel, E; Fraczkiewicz, A; Menand, Alain; Pareige, C; Deconihout, Bernard; Caron, P; Bunton, BH; Olson, JD; Lenz, DR; Kelly, Thomas; Warren, Paul; Godfrey, Terence J.
Informations sur la publication:	Microscopy and microanalysis, 13, 6, page (408-417)
Statut de publication:	Publié, 2007-12-01
Sujet CREF:	Chimie
	Physique des surfaces
	Chimie des surfaces et des interfaces
	Connaissance des matériaux
	Contrôle des matériaux
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1431-9276
	info:doi/10.1017/S143192760707095X