par Page, Robert D.;Vancraeynest, G.;Shotter, Alan C.;Huyse, Mark;Bain, C. R.;Binon, Freddy 
;Coszach, R.;Davinson, Thomas;Decrock, Patrick;Delbar, Thierry;Duhamel, Paul ;Gaelens, Michel;Galster, Wilfried;Leleux, Pol;Licot, I.;Liénard, E.;Lipnik, Peter;Michotte, C.;Ninane, A.;Sellin, Paul;Sükösd, Cs;Van Duppen, Piet;Vanhorenbeeck, Jean ;Vervier, Jean;Wiescher, Michael;Woods, Philippe J.
Référence AIP Conference Proceedings, page (253-254)
Publication Publié, 1995
;Coszach, R.;Davinson, Thomas;Decrock, Patrick;Delbar, Thierry;Duhamel, Paul ;Gaelens, Michel;Galster, Wilfried;Leleux, Pol;Licot, I.;Liénard, E.;Lipnik, Peter;Michotte, C.;Ninane, A.;Sellin, Paul;Sükösd, Cs;Van Duppen, Piet;Vanhorenbeeck, Jean ;Vervier, Jean;Wiescher, Michael;Woods, Philippe J.Référence AIP Conference Proceedings, page (253-254)
Publication Publié, 1995
Article révisé par les pairs
