par Ebbeni, Jean-Pierre
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 952, page (66-82)
Publication Publié, 1989
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Overview of optical methods in metrology
Auteur:Ebbeni, Jean-Pierre
Informations sur la publication:Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 952, page (66-82)
Statut de publication:Publié, 1989
Sujet CREF:Informatique appliquée logiciel
Mathématiques
Electronique et électrotechnique
Métallurgie
Physique de l'état solide
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Note générale:SCOPUS: cp.p
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0277-786X
info:doi/10.1117/12.968814
info:scp/84943784243