par Teguig, Djamel ; [et al.]
Référence Electronics Letters, 51, 3, page (253 - 255)
Publication Publié, 2015-05-02
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Spectrum sensing method based on likelihood ratio goodness-of-fit test
Auteur:Teguig, Djamel; et al.
Informations sur la publication:Electronics Letters, 51, 3, page (253 - 255)
Statut de publication:Publié, 2015-05-02
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0013-5194
info:doi/10.1049/el.2014.3579