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Surface Analysis and Ultra-Shallow Molecular Depth-Profiling of Polyethylene Treated by an Atmospheric Ar-D2O Post-Discharge

par Cristaudo, Vanina;Collette, Stephanie ;Poleunis, Claude;Reniers, François ;Delcorte, Arnaud
Référence Plasma processes and polymers, 12, 9, page (919-925)
Publication Publié, 2015-09

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Titre:	Surface Analysis and Ultra-Shallow Molecular Depth-Profiling of Polyethylene Treated by an Atmospheric Ar-D2O Post-Discharge
Auteur:	Cristaudo, Vanina; Collette, Stephanie; Poleunis, Claude; Reniers, François; Delcorte, Arnaud
Informations sur la publication:	Plasma processes and polymers, 12, 9, page (919-925)
Statut de publication:	Publié, 2015-09
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Métallurgie
Mots-clés:	atmospheric Ar-D2O post-discharges
	deuteration
	GCIB
	LDPE films
	ToF-SIMS molecular depth-profiling
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1612-8850
	info:doi/10.1002/ppap.201400248
	info:scp/84941997227