par Kremer, Anna;Krols, M.;Larsimont, Jean-Christophe 
;Mc Guire, Conor;Nowack, Moritz K.;Saelens, Xavier;Schertel, Andreas;Schepens, Bert;Slezak, Michal;Timmerman, Vincent;Theunis, C.;Lippens, Saskia;Van Brempt, Ronald;Visser, Y.;Guérin, C.J.;Bartunkova, Sonia;Asselbergh, Bob;Blanpain, Cédric ;Fendrych, Matyáš;Goossens, Alain;Holt, Matthew;Janssens, Stefan
Référence Journal of microscopy, 259, 2, page (80-96)
Publication Publié, 2015-08
;Mc Guire, Conor;Nowack, Moritz K.;Saelens, Xavier;Schertel, Andreas;Schepens, Bert;Slezak, Michal;Timmerman, Vincent;Theunis, C.;Lippens, Saskia;Van Brempt, Ronald;Visser, Y.;Guérin, C.J.;Bartunkova, Sonia;Asselbergh, Bob;Blanpain, Cédric ;Fendrych, Matyáš;Goossens, Alain;Holt, Matthew;Janssens, StefanRéférence Journal of microscopy, 259, 2, page (80-96)
Publication Publié, 2015-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Kremer, Anna; Krols, M.; Larsimont, Jean-Christophe; Mc Guire, Conor; Nowack, Moritz K.; Saelens, Xavier; Schertel, Andreas; Schepens, Bert; Slezak, Michal; Timmerman, Vincent; Theunis, C.; Lippens, Saskia; Van Brempt, Ronald; Visser, Y.; Guérin, C.J.; Bartunkova, Sonia; Asselbergh, Bob; Blanpain, Cédric; Fendrych, Matyáš; Goossens, Alain; Holt, Matthew; Janssens, Stefan |
| Informations sur la publication: | Journal of microscopy, 259, 2, page (80-96) |
| Statut de publication: | Publié, 2015-08 |
| Sujet CREF: | Histologie |
| Pathologie générale | |
| Médecine légale | |
| Mots-clés: | Correlative light and electron microscopy |
| Focused ion beam scanning electron microscopy | |
| Sample preparation | |
| Serial block-face scanning electron microscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| FLWIN | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0022-2720 |
| info:doi/10.1111/jmi.12211 | |
| info:scp/84937250708 |
