par Dehaeck, Sam
;Tsoumpas, Ioannis
;Colinet, Pierre 
Référence Applied optics, 54, 10, page (2939-2952)
Publication Publié, 2015



Référence Applied optics, 54, 10, page (2939-2952)
Publication Publié, 2015
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Dehaeck, Sam; Tsoumpas, Ioannis; Colinet, Pierre |
Informations sur la publication: | Applied optics, 54, 10, page (2939-2952) |
Statut de publication: | Publié, 2015 |
Sujet CREF: | Métrologie |
Photo-interprétation | |
Mots-clés: | Phase retrieval |
Wavelets | |
Fringe analysis | |
Metrology | |
Phase measurement | |
Speckle interferometry | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
SCOPUS: ar.j | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:1559-128X |
info:doi/10.1364/AO.54.002939 | |
info:scp/84934759168 | |
http://ao.osa.org/abstract.cfm?URI |