par Dehaeck, Sam 
;Tsoumpas, Ioannis ;Colinet, Pierre
Référence Applied optics, 54, 10, page (2939-2952)
Publication Publié, 2015
;Tsoumpas, Ioannis ;Colinet, Pierre Référence Applied optics, 54, 10, page (2939-2952)
Publication Publié, 2015
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Dehaeck, Sam; Tsoumpas, Ioannis; Colinet, Pierre |
| Informations sur la publication: | Applied optics, 54, 10, page (2939-2952) |
| Statut de publication: | Publié, 2015 |
| Sujet CREF: | Métrologie |
| Photo-interprétation | |
| Mots-clés: | Phase retrieval |
| Wavelets | |
| Fringe analysis | |
| Metrology | |
| Phase measurement | |
| Speckle interferometry | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| SCOPUS: ar.j | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1559-128X |
| info:doi/10.1364/AO.54.002939 | |
| info:scp/84934759168 | |
| http://ao.osa.org/abstract.cfm?URI |
