par Scheid, Benoît ;Kabov, Oleg ;Minetti, Christophe ;Colinet, Pierre ;Legros, Jean Claude
Editeur scientifique Hahne, E. W. P.;Heidemann, W.;Spindler, K.
Référence (Heidelberg), Proc. 3rd Eur. Thermal-Sci. Conf., Vol. 2, page (651-657)
Publication Publié, 2000
Publication dans des actes
Titre:
  • Measurement of free surface deformation by reflectance-Schlieren method
Auteur:Scheid, Benoît; Kabov, Oleg; Minetti, Christophe; Colinet, Pierre; Legros, Jean Claude
Editeur scientifique:Hahne, E. W. P.; Heidemann, W.; Spindler, K.
Informations sur la publication:(Heidelberg), Proc. 3rd Eur. Thermal-Sci. Conf., Vol. 2, page (651-657)
Statut de publication:Publié, 2000
Sujet CREF:Physique
Langue:Anglais
Identificateurs:bs-0020

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