Auger lines relative intensities as a tool for the characterizing of oxides formed during the oxidation of single crystals of dilute Cu‐Mn alloys

Référence Surface and interface analysis, 9, 3, page (181)
Publication Publié, 1986-07

Article révisé par les pairs

Titre:	Auger lines relative intensities as a tool for the characterizing of oxides formed during the oxidation of single crystals of dilute Cu‐Mn alloys
Auteur:	Van Steene, G.; Jardinier, Marcelle; Bouillon, Florent
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis, 9, 3, page (181)
Statut de publication:	Publié, 1986-07
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique des surfaces
	Chimie
	Métallurgie
	Chimie des solides
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWNA
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/sia.740090309
	info:scp/85024781721

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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