par Tran, Duc Toan;Jansen, Bart;Deklerck, Rudi;Debeir, Olivier 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 9445, 94450Y
Publication Publié, 2015
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 9445, 94450Y
Publication Publié, 2015
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Tran, Duc Toan; Jansen, Bart; Deklerck, Rudi; Debeir, Olivier |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 9445, 94450Y |
| Statut de publication: | Publié, 2015 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mots-clés: | feature combination |
| Image classification | |
| Naive-Bayes Nearest-Neighbor | |
| NIMBLE | |
| SIFT | |
| SURF | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.2181017 | |
| info:scp/84924388393 |
