par Vandenrijt, Jean-François;Thizy, Cédric;Stockman, Yvan
;Queeckers, Patrick
;Dubois, Frank
;Doyle, Dominic;Georges, Marc
Référence 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924)
Publication Publié, 2014
;Queeckers, Patrick
;Dubois, Frank
;Doyle, Dominic;Georges, MarcRéférence 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924)
Publication Publié, 2014
Publication dans des actes
| Titre: |
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| Auteur: | Vandenrijt, Jean-François; Thizy, Cédric; Stockman, Yvan; Queeckers, Patrick; Dubois, Frank; Doyle, Dominic; Georges, Marc |
| Informations sur la publication: | 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924) |
| Statut de publication: | Publié, 2014 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Optique | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:isbn:978-364236358-0 |



