par Stahl, R.;Vanmeerbeeck, Geneviève ;Lafruit, Gauthier ;Reumers, V.;Huys, R.;Lambrechts, A.;Yashiro, M.;Takemoto, M.;Nishishita, N.;Kawamata, S.;Gomi, S.;Hatabayashi, K.;Oshima, Y;Ozaki, S
Référence Proc. SPIE BiOS, Vol. 8947
Publication Publié, 2014
Référence Proc. SPIE BiOS, Vol. 8947
Publication Publié, 2014
Publication dans des actes
Titre: |
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Auteur: | Stahl, R.; Vanmeerbeeck, Geneviève; Lafruit, Gauthier; Reumers, V.; Huys, R.; Lambrechts, A.; Yashiro, M.; Takemoto, M.; Nishishita, N.; Kawamata, S.; Gomi, S.; Hatabayashi, K.; Oshima, Y; Ozaki, S |
Informations sur la publication: | Proc. SPIE BiOS, Vol. 8947 |
Statut de publication: | Publié, 2014 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Langue: | Anglais |