SIFER: Scale-Invariant Feature Detector with Error Resilience

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;Yang, Q.;Geelen, B.;Van Gool, Luc ;Lauwereins, Rudy
Référence International journal of computer vision, 104, 2, page (172-197)
Publication Publié, 2013

Article révisé par les pairs

Titre:	SIFER: Scale-Invariant Feature Detector with Error Resilience
Auteur:	Mainali, P.; Lafruit, Gauthier; Yang, Q.; Geelen, B.; Van Gool, Luc; Lauwereins, Rudy
Informations sur la publication:	International journal of computer vision, 104, 2, page (172-197)
Statut de publication:	Publié, 2013
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0920-5691

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