par Mantrach, Amin
;Yen, Luh;Callut, Jérôme;Francoisse, Kevin;Saerens, Marco
;Shimbo, Masashi
Référence IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265
Publication Publié, 2010
;Yen, Luh;Callut, Jérôme;Francoisse, Kevin;Saerens, Marco
;Shimbo, MasashiRéférence IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265
Publication Publié, 2010
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Mantrach, Amin; Yen, Luh; Callut, Jérôme; Francoisse, Kevin; Saerens, Marco; Shimbo, Masashi |
| Informations sur la publication: | IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265 |
| Statut de publication: | Publié, 2010 |
| Sujet CREF: | Informatique générale |
| Mathématiques | |
| Informatique appliquée logiciel | |
| Informatique mathématique | |
| Intelligence artificielle | |
| Mots-clés: | Betweenness measure |
| Biased random walk | |
| Commute time distance | |
| Correlation measure | |
| Graph mining | |
| Kernel on a graph | |
| Resistance distance | |
| Semi-supervised classification. | |
| Shortest path | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0162-8828 |
| info:doi/10.1109/TPAMI.2009.78 | |
| info:scp/77951620680 |



