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The influence of the sample thickness in the measurements of dielectric characteristics with transmission lines by the method of Roberts-Von Hippel

par Mandel, Michel ;Marco, C.
Référence Physica, 30, 3, page (597-607)
Publication Publié, 1964-03

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• Détails
• Contenu

Titre:	The influence of the sample thickness in the measurements of dielectric characteristics with transmission lines by the method of Roberts-Von Hippel
Auteur:	Mandel, Michel; Marco, C.
Informations sur la publication:	Physica, 30, 3, page (597-607)
Statut de publication:	Publié, 1964-03
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0031-8914
	info:pii/0031891464901521
	info:scp/50549217462