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Microwave measurement of the surface resistance and the magnetic penetration depth of small area of high-Tc superconducting thin films by dielectric resonator.

par Mourachkine, Andrei ;Barel, Alain R F
Référence Physica. C, Superconductivity, 235-240, PART 3, page (1841-1842)
Publication Publié, 1994

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Titre:	Microwave measurement of the surface resistance and the magnetic penetration depth of small area of high-Tc superconducting thin films by dielectric resonator.
Auteur:	Mourachkine, Andrei; Barel, Alain R F
Informations sur la publication:	Physica. C, Superconductivity, 235-240, PART 3, page (1841-1842)
Statut de publication:	Publié, 1994
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Electronique et électrotechnique
	Métallurgie
	Physique de l'état solide
	Sciences de l'ingénieur
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0921-4534
	info:doi/10.1016/0921-4534(94)92142-3
	info:pii/0921-4534(94)92142-3
	info:scp/43949160441