par Godinho, Vanda 
;Rojas, Teresa Cristina;Trasobares, Susana;Ferrer, Francisco Javier;Delplancke, Marie-Paule ;Fernández, Asuncion
Référence Microscopy and microanalysis, 18, 3, page (568-581)
Publication Publié, 2012-06
;Rojas, Teresa Cristina;Trasobares, Susana;Ferrer, Francisco Javier;Delplancke, Marie-Paule ;Fernández, AsuncionRéférence Microscopy and microanalysis, 18, 3, page (568-581)
Publication Publié, 2012-06
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Godinho, Vanda; Rojas, Teresa Cristina; Trasobares, Susana; Ferrer, Francisco Javier; Delplancke, Marie-Paule; Fernández, Asuncion |
| Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 18, 3, page (568-581) |
| Statut de publication: | Publié, 2012-06 |
| Sujet CREF: | Instrumentation et méthodes en physique |
| Mots-clés: | energy loss spectroscopy |
| high-angle annular dark field | |
| scanning transmission electron microscopy | |
| TiASiN thin films | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |
| info:doi/10.1017/S1431927612000384 | |
| info:pii/S1431927612000384 | |
| info:scp/84861864329 |
