Analysis of titanium dental implants after failure of osseointegration: Combined histological, electron microscopy, and X-ray photoelectron spectroscopy approach

;He, Yan ;Le, Quoctoan Q.T.;Pireaux, Jean-Jacques
Référence Journal of Biomedical Materials Research, 43, 3, page (300-312)
Publication Publié, 1998-09

Article révisé par les pairs

Titre:	Analysis of titanium dental implants after failure of osseointegration: Combined histological, electron microscopy, and X-ray photoelectron spectroscopy approach
Auteur:	Arys, A.; Philippart, Christine; Dourov, Nicolas; He, Yan; Le, Quoctoan Q.T.; Pireaux, Jean-Jacques
Informations sur la publication:	Journal of Biomedical Materials Research, 43, 3, page (300-312)
Statut de publication:	Publié, 1998-09
Sujet CREF:	Métallurgie
	Ingénierie biomédicale
Mots-clés:	Dental implant
	Osseointegration failure
	Surface analysis
	Titanium
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0021-9304
	info:doi/10.1002/(SICI)1097-4636(199823)43:3<300::AID-JBM11>3.0.CO;2-J
	info:scp/0032171419
	info:pmid/9730068

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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