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Mapping 2-D defects in a conductive half-space by eigenfunction expansions in K-space of Fourier-Laplace transforms

par Litman, Amélie;Lesselier, Dominique;De Mol, Christine
Editeur scientifique Collins, Roy;Dover, W. D.;Bowler, J. R.;Miya, K.
Référence Nondestructive Testing of Materials, IOS Press, Amsterdam ; Washington, D.C.
Publication Publié, 1995

Partie d'ouvrage collectif

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Titre:	Mapping 2-D defects in a conductive half-space by eigenfunction expansions in K-space of Fourier-Laplace transforms
Auteur:	Litman, Amélie; Lesselier, Dominique; De Mol, Christine
Editeur scientifique:	Collins, Roy; Dover, W. D.; Bowler, J. R.; Miya, K.
Informations sur la publication:	Nondestructive Testing of Materials, IOS Press, Amsterdam ; Washington, D.C.
Statut de publication:	Publié, 1995
series:	Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics, 8
Sujet CREF:	Analyse harmonique
	Statistique appliquée
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:isbn:9789051992397
	VX-005559