par Bertero, Mario 
;Boccacci, Patrizia;Brianzi, Paola;De Mol, Christine ;Pike, Edward Roy
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 0809, page (114-117)
Publication Publié, 1987
;Boccacci, Patrizia;Brianzi, Paola;De Mol, Christine ;Pike, Edward RoyRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 0809, page (114-117)
Publication Publié, 1987
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Bertero, Mario; Boccacci, Patrizia; Brianzi, Paola; De Mol, Christine; Pike, Edward Roy |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 0809, page (114-117) |
| Statut de publication: | Publié, 1987 |
| Sujet CREF: | Analyse harmonique |
| Statistique appliquée | |
| Note publication spéciale: | Scanning Imaging TechnologyLudwig J. Balk; Tony Wilson (eds)The Hague, Netherlands - March 30, 1987 |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.941506 | |
| info:scp/84957482401 | |
| VX-005553 |
