par Bertero, Mario
;Viano, Giovanni Alberto;De Mol, Christine 
Référence (August 26-29, 1980: Munich), International U.R.S.I.-Symposium 1980 on Electromagnetic Waves, U.R.S.I., Munich, page (313C1-313C4)
Publication Publié, 1980


Référence (August 26-29, 1980: Munich), International U.R.S.I.-Symposium 1980 on Electromagnetic Waves, U.R.S.I., Munich, page (313C1-313C4)
Publication Publié, 1980
Publication dans des actes
Titre: |
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Auteur: | Bertero, Mario; Viano, Giovanni Alberto; De Mol, Christine |
Informations sur la publication: | (August 26-29, 1980: Munich), International U.R.S.I.-Symposium 1980 on Electromagnetic Waves, U.R.S.I., Munich, page (313C1-313C4) |
Statut de publication: | Publié, 1980 |
Sujet CREF: | Analyse harmonique |
Statistique appliquée | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | VX-005504 |