par Abbaneo, Duccio;Abbrescia, Marcello;Abi Akl, M.;Argamaingaud, C.;Aspell, Paul;Assran, Y.;Bally, S.;Ban, Yong;Barria, P.;Benussi, Luigi ;Bhopatkar, V;Bianco, S.;Bos, J.;Bouhali, Othmane ;Cai, Jianxin;Calabria, Cesare;Castaneda, A.;Cauwenbergh, S.;Celik, A.;Christiansen, Jørgen;Colafranceschi, Stefano;Colaleo, Anna;Conde Garcia, A.;De Lentdecker, Gilles ;De Oliveira, Rui;De Robertis, Giuseppe;Dildick, S.;Ferry, Steven;Flanagan, W.;Gilmore, J.;Gutierrez, Augusto L.;Hoepfner, Kerstin;Hohlmann, Marcus;Kamon, TerukI;Karchin, Paul E.;Khotilovich, Vadim;Krutelyov, Slava;Loddo, F.;Maerschalk, Thierry ;Magazzu, Guido;Maggi, Marcello;Maghrbi, Yasser;Marchioro, Alessandro;Marinov, Alexander;Merlin, J.A.;Nuzzo, Salvatore;Oliveri, Eraldo;Philipps, Bernhard;Piccolo, D.;Postema, Hans;Radi, Abdullah;Radogna, R.;Raffone, Guido;Ranieri, Antonio;Rodrigues, Anna;Ropelewski, Leszek;Safonov, A.;Sakharov, A.;Salva, S.;Saviano, Giovanna;Sharma, Archana;Tatarinov, A.;Teng, Huiling;Turini, N.;Twigger, J.;Tytgat, M.;Van Stenis, Miranda;Verhagen, Erik ;Yifan, Yang ;Zaganidis, Nicolas;Zenoni, Florian
Référence Journal of Instrumentation, 8, 11, C11017
Publication Publié, 2013-11
Référence Journal of Instrumentation, 8, 11, C11017
Publication Publié, 2013-11
Article révisé par les pairs
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