par Verga, Antonio;Baglioni, Piero;Dupont, Olivier 
;Dewandel, Jean-Luc ;Beuselinck, Tom;Bouwen, Jan
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 3172, page (196-212)
Publication Publié, 1997
;Dewandel, Jean-Luc ;Beuselinck, Tom;Bouwen, JanRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 3172, page (196-212)
Publication Publié, 1997
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Verga, Antonio; Baglioni, Piero; Dupont, Olivier; Dewandel, Jean-Luc; Beuselinck, Tom; Bouwen, Jan |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 3172, page (196-212) |
| Statut de publication: | Publié, 1997 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mots-clés: | ESPI |
| Fluid Physics | |
| Interferometry | |
| Laser Speckle | |
| Microgravity | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.293390 | |
| info:scp/57649108836 |
