par Carrasco, Claudia;Segers, Luc 
;Benavente, B.;Vergara, Victor
Référence Journal of materials processing technology, 145, 3, page (371-376)
Publication Publié, 2004-02
;Benavente, B.;Vergara, VictorRéférence Journal of materials processing technology, 145, 3, page (371-376)
Publication Publié, 2004-02
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Carrasco, Claudia; Segers, Luc; Benavente, B.; Vergara, Victor |
| Informations sur la publication: | Journal of materials processing technology, 145, 3, page (371-376) |
| Statut de publication: | Publié, 2004-02 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Technologie des autres industries | |
| Métallurgie | |
| Informatique mathématique | |
| Mots-clés: | Thin film characterization |
| Titanium nitride | |
| Wear resistance | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0924-0136 |
| info:doi/10.1016/j.jmatprotec.2003.09.001 | |
| info:pii/S0924013603009634 | |
| info:scp/0942277631 |
