par Meys, René
Référence IEEE transactions on microwave theory and techniques, 36, 6, page (1043-1046)
Publication Publié, 1988-06
Article révisé par les pairs
Titre:
  • TRIPLE-THROUGH METHOD FOR CHARACTERIZING TEST FIXTURES.
Auteur:Meys, René
Informations sur la publication:IEEE transactions on microwave theory and techniques, 36, 6, page (1043-1046)
Statut de publication:Publié, 1988-06
Sujet CREF:Isotopes et éléments radioactifs
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Electronique et électrotechnique
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0018-9480
info:doi/10.1109/22.3630
info:scp/0024034260