par Carleer, Alexandre
;Wolff, Eléonore 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50
Publication Publié, 2004
;Wolff, Eléonore 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50
Publication Publié, 2004
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Carleer, Alexandre; Wolff, Eléonore |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50 |
| Statut de publication: | Publié, 2004 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mots-clés: | Classification |
| Feature selection | |
| Land cover/use | |
| Segmentation | |
| Very high spatial resolution data | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.565225 | |
| info:scp/17644399122 |



