par Carleer, Alexandre ;Wolff, Eléonore
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50
Publication Publié, 2004
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50
Publication Publié, 2004
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Carleer, Alexandre; Wolff, Eléonore |
Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5573, page (150-160), 50 |
Statut de publication: | Publié, 2004 |
Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
Mathématiques | |
Electronique et électrotechnique | |
Métallurgie | |
Physique de l'état solide | |
Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Mots-clés: | Classification |
Feature selection | |
Land cover/use | |
Segmentation | |
Very high spatial resolution data | |
Note générale: | SCOPUS: cp.p |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
info:doi/10.1117/12.565225 | |
info:scp/17644399122 |