par Delplancke, Françoise 
Référence Applied optics, 36, 22, page (5388-5395)
Publication Publié, 1997-08
Référence Applied optics, 36, 22, page (5388-5395)
Publication Publié, 1997-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Delplancke, Françoise |
| Informations sur la publication: | Applied optics, 36, 22, page (5388-5395) |
| Statut de publication: | Publié, 1997-08 |
| Sujet CREF: | Optique |
| Physique atomique et moléculaire | |
| Mots-clés: | Industrial control |
| Mueller matrix | |
| Polarimetry | |
| Polarization | |
| Scatterometry | |
| Surface roughness | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0003-6935 |
| info:scp/0001517329 |
