par Delplancke, Françoise 
Référence Applied optics, 36, 30, page (7621-7628)
Publication Publié, 1997-10
Référence Applied optics, 36, 30, page (7621-7628)
Publication Publié, 1997-10
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Delplancke, Françoise |
| Informations sur la publication: | Applied optics, 36, 30, page (7621-7628) |
| Statut de publication: | Publié, 1997-10 |
| Sujet CREF: | Optique |
| Physique atomique et moléculaire | |
| Mots-clés: | Generalized ellipsometry |
| Liquid-crystal device | |
| Mueller matrix | |
| Polarization | |
| Scatterometry | |
| Surface roughness | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0003-6935 |
| info:scp/0542418352 |
